SEM 나노 분말 샘플을 준비하려면 일반적으로 다음 단계가 필요합니다. 샘플 준비 첫째, 적절한 시료 준비 방법을 선택하는 것이 필요합니다. 일반적으로 물리적 방법, 화학적 방법, 생물학적 방법, 기계적 방법 등이 있으며 그 중 가장 일반적인 방법으로는 마그네트론 스퍼터링, 화학적 환원, 에어로졸 등이 있습니다. 시료 분산 나노분말 시료를 고르게 분산시키는 것도 매우 중요합니다. 초음파나 교반 등의 방법을 사용하여 시료를 용매나 기타 물질에 균일하게 분산시킬 수 있습니다. 샘플 준비 실제 필요에 따라 샘플을 얇은 필름, 얇은 필름 또는 기타 형태로 준비할 수 있습니다. 샘플은 일반적으로 원심분리기와 같은 장비를 사용하여 준비할 수 있습니다. 입자 크기 테스트 입자 크기는 투과전자현미경이나 X선 회절과 같은 ...
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1. 주사전자현미경의 분류 주사전자현미경은 전자 발생 방식에 따라 열전자방출형과 전계방출형으로 구분할 수 있다. 열전자방출형에 사용되는 필라멘트는 주로 텅스텐 필라멘트 전자현미경이다. 전계 방출 유형 Hot Field Emission과 Cold Field Emission의 차이. 2. 투과전자현미경의 분류 투과전자현미경은 전자 발생 방식에 따라 열전자방출형과 전계방출형으로 구분할 수 있다. 열이온 방출에 사용되는 필라멘트에는 주로 텅스텐 필라멘트와 란타늄 육붕소 필라멘트가 포함됩니다. 전계 방출에는 열 전계 방출과 저온 전계 방출의 두 가지 유형이 있습니다. 3. 주사전자현미경과 투과전자현미경의 유사점과 차이점두 가지 모두 샘플에 대한 유사한 요구 사항을 가지고 있습니다. 즉, 고체, 가능한 건조함, 오일 ...
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주사전자현미경(SEM)SEM은 현대 과학이 미시 세계를 탐구하는 데 핵심적인 도구입니다. 고해상도 전자 이미징 기술을 통해 물질의 미시적 구조에 대한 통찰력을 얻을 수 있도록 함으로써 과학 연구 및 산업 응용 분야에서 대체할 수 없는 역할을 합니다. SEM은 고에너지 전자빔으로 시료 표면을 스캔하여 전자와 시료 사이의 상호작용으로 생성되는 2차 전자, 후방 산란 전자, X선 등의 신호를 수집하여 시료 표면의 상세한 형태, 구성 및 구조 정보를 얻습니다. 이 기술은 기존 광학 현미경보다 높은 해상도를 제공하여 나노입자, 바이러스, 세포 소기관과 같은 나노 크기의 미세 구조를 관찰할 수 있도록 합니다. SEM의 구성 요소 및 이미징 프로세스 SEM은 전자총, 전자기 렌즈, 주사 코일, 시료 챔버, 검출기 등의 ...
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