1, xrf (xray fluorescence x-ray fluorescence) 표면 화학 분석을 위해이 방법을 사용하지만 표준 샘플을 구입하고 표준 곡선을 그려야합니다. 측정 된 샘플은 매끄러운 표면과 같은 여러 조건을 충족해야합니다. 균일 한 조성. 조성이 균일하지 않은 경우, xrf로 측정 한 미세 면적의 조성이 동일하고 나머지는 표현할 수 없다고 만 말할 수 있습니다. 즉, 샘플을 원하는 경우 정확한, 당신은 해당 표준이 있어야합니다. 구리 합금은 구리 합금에 해당하고, 알루미늄 합금은 알루미늄 합금에 해당하고, pvc는 pvc에, abs는 abs에 해당하며, 재료는 상대적으로 정확해야합니다. 일치하지 않는 경우 측정 된 결과는 참고 판단에만 사용할 수 있습니다. 특정 결과는 icp 또는 원자 흡수...
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XRF는 X선 형광 분석(X-ray Fluorescent Analysis)의 약자로, X선의 특성을 활용하여 물질의 비파괴 분석을 수행합니다. XRF는 X선 형광 분광 분석기(X-ray Fluorescent Spectroscopy Analyser)의 약어로, 고체, 액체, 분말 시료의 원소를 식별하고 측정하는 데 적합합니다. X선 여기 후 방출되는 형광을 측정하여 시료의 원소 조성을 결정합니다. XRF는 금속, 광물, 화합물, 플라스틱 및 환경 시료의 원소 분석에 사용할 수 있습니다. EDS는 Energy Dispersive X-ray Spectroscopy의 약어입니다. X선에 의해 생성된 특정 에너지 전자를 이용해 원자와 상호작용해 물질의 화학적 조성과 결정 상태를 결정하는 기술이다. EDS는 금속 및 ...
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EDS는 어떻게 가벼운 원소의 스펙트럼선을 식별하는가? 에너지 분산형 X선 분광법(EDS)은 보통 주사전자현미경이나 투과전자현미경에 장착됩니다. 입사 전자가 시료 원자에서 안쪽 껍질 전자를 튀어나오게 하고, 그러면 바깥쪽 전자가 빈자리에 떨어지며 두 준위 사이의 에너지 차이가 특성 X선으로 방출됩니다. 실리콘 드리프트 검출기(SDD)는 각 광자의 에너지를 측정하고 에너지별로 카운트를 누적하여, 가로축에는 에너지, 세로축에는 카운트가 표시되는 스펙트럼을 생성합니다. 피크 위치는 원소를 식별하는 반면, 연속 배경을 뺀 후의 순 피크 강도는 표준 물질과 비교하고 세 가지 매트릭스 효과(원자번호, 흡수, 형광)에 대해 보정한 후에야 농도로 변환될 수 있습니다. 하나의 껍질 내에서는 원자번호가 감소함에 따라 선 에너...
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