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명사 설명 : xrf, eds, icp in component analysis

May 17,2019.
1, xrf (xray fluorescence x-ray fluorescence)
표면 화학 분석을 위해이 방법을 사용하지만 표준 샘플을 구입하고 표준 곡선을 그려야합니다. 측정 된 샘플은 매끄러운 표면과 같은 여러 조건을 충족해야합니다. 균일 한 조성. 조성이 균일하지 않은 경우, xrf로 측정 한 미세 면적의 조성이 동일하고 나머지는 표현할 수 없다고 만 말할 수 있습니다.
즉, 샘플을 원하는 경우 정확한, 당신은 해당 표준이 있어야합니다. 구리 합금은 구리 합금에 해당하고, 알루미늄 합금은 알루미늄 합금에 해당하고, pvc는 pvc에, abs는 abs에 해당하며, 재료는 상대적으로 정확해야합니다. 일치하지 않는 경우 측정 된 결과는 참고 판단에만 사용할 수 있습니다. 특정 결과는 icp 또는 원자 흡수를 기반으로합니다.
xrf 샘플은 전처리가 필요합니다. 예를 들어, 분쇄 또는 용융은 성분을 균일하게 측정하는 것입니다.
단점
a) 절대 분석을하기 때문에 정량 분석에는 표준 샘플이 필요합니다.
b) 가벼운 원소에 대한 감도가 낮습니다.
c) 상호 원소 간섭과 중첩 된 피크에 취약합니다.
2.eds (에너지 분산 분광계)
측정 요소로 화합물을 검출 할 수 없습니다. 표면이기도하고, 재료 전체를 측정 할 수 없으며, 포인트 분석, 지역 분석 등은 특정 영역의 요소 일뿐입니다. . 전체 함량을 측정하려면 xrf 샘플을 참조하십시오. 또한 eds 정량화는 샘플을 볼 수 없습니다. 샘플이 xrf 테스트 표준을 충족하는 경우 eds 측정도 매우 정확하지만 eds는 켜져 있습니다. sem은 모두 원래 모양을보기 위해 샘플이 너무 많은 전처리를 할 수 없기 때문에 eds는 반 정량적 일뿐입니다.
3, icp (유도 결합 플라즈마)
icp를 사용하여 용액에서 ppm 등급의 원소 함량을 측정합니다. 그것은 또한 원소 함량입니다. emical analysis method. 동작이 정확하면 곡선 구성이 매우 정확합니다.
단, 시료가 고체 인 경우 전처리를 거쳐 용액을 만들어야합니다. 금속 인 경우 다양한 비금속 인 경우 마이크로파 분해, 고온 용해 등과 같은 다양한 방법으로 용해해야합니다.
icp-ms는 ppb 수준을 만드는 데 사용할 수 있으며 xrf는 주문 중입니다.
전처리가 잘되면 icp로 측정 한 원소 함량이 전체 함량! 효과면에서 표면의 내용이 아니라 xrf와 eds는 표면 요소 분석이고 icp는 전체입니다.

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