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  • 09

    Apr

    XRD(X선 회절) 피크가 이동하는 이유는 무엇입니까?

    피크 이동의 이유XRD(X선 회절) 일반적으로 샘플 자체의 속성 변화나 실험 조건의 영향을 수반하며, 이는 다음과 같은 측면에서 분석할 수 있습니다.1. 표본 요인1.1 잔류응력 또는 격자변형 잔류응력: 재료 내부의 잔류응력(압축응력이나 인장응력과 같은)은 격자상수를 변화시켜 결정립간격(dd값)을 변화시킬 수 있습니다.압축 응력 â†' 면간 간격 감소 â†' 피크 위치가 더 높은 각도로 이동합니다(2θ 증가).인장 응력 â†' 면간 간격 증가 â†' 피크 위치가 낮은 각도로 이동(2 θ 감소).미세한 변형: 나노소재나 비정질 소재의 국소적 격자 변형으로 인해 피크가 이동하거나 넓어질 수 있습니다. 1.2 조성 변화 고용체 형성: 도핑, 합금화 또는 이온 치환(예: Co²⁻⁻가 Fe²⁻⁻를 대체)은 격자 ...
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  • 12

    Nov

    XRD가 SEM 또는 TEM보다 더 작은 크기를 나타내는 이유

    XRD, SEM, TEM은 실제로 어떤 크기를 측정할까요? X선 회절(XRD)은 결정이 X선을 산란시키는 방식을 기록하며, 일반적으로 수평축에는 회절각 2θ를, 수직축에는 회절 강도를 나타냅니다. 원자의 주기적 배열은 회절 피크를 생성하며, 피크의 너비는 해당 배열이 일관성(코어런스)을 유지하는 거리와 관련이 있습니다. 따라서 피크 너비로부터 추정된 코어런트 도메인 크기는 특정 결정학적 방향을 따라 일관되게 회절하는 정렬 영역을 설명합니다. 저 정렬 영역은 전자 현미경이 측정하는 대상이 아닙니다. 주사 전자 현미경(SEM)의 일반적인 이차 전자 이미지는 주로 표면 지형을 반영하며, 투과 전자 현미경(TEM)은 투과 및 산란된 전원으로부터 이미지를 형성합니다. 입자 외곽선을 따라 직경을 측정할 때 두 기법 모...
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