1. 입자 크기 및 분포 특성 분석

DLS는 입자 크기 분포의 폭을 평가하는 무차원 매개변수인 다분산 지수(PDI)도 제공합니다. 일반적으로 PDI 값이 0.3 미만이면 시료의 분산이 양호하고 입자 크기 분포가 균일함을 나타냅니다. PDI 값이 0.7보다 크면 시료의 응집이 심하거나 입자 크기 분포가 매우 불균일함을 의미합니다.

나노입자 추적 분석(NTA): NTA는 광학 현미경을 통해 시야 내 각 입자의 브라운 운동 궤적을 실시간으로 추적하고 기록한 후, 스토크스-아인슈타인 방정식을 사용하여 각 입자의 크기를 계산합니다. DLS와 비교하여 NTA는 더 높은 해상도의 입자 크기 분포 정보를 제공하고 입자 농도를 직접 측정할 수 있어, 다분산 및 복잡한 시스템의 특성 분석에 특히 유용합니다.

2. 형태학적 및 구조적 특성

전자현미경(TEM&SEM): 투과전자현미경(TEM)과 주사전자현미경(SEM)은 나노입자의 가장 직관적인 형태학적 정보를 제공할 수 있습니다. 이러한 기술을 통해 연구자들은 나노입자의 크기, 모양, 표면 구조, 그리고 입자가 단일 분산 상태인지 또는 입자 응집체를 형성하는지 여부를 직접 관찰할 수 있습니다. TEM은 분해능이 더 높아 입자의 결정 구조까지 관찰할 수 있습니다. 원자간력현미경(AFM): AFM은 미세 탐침으로 시료 표면을 스캔하여 입자의 3차원 형태 이미지를 얻고 높이와 측면 치수를 정확하게 측정합니다.

제타 전위 측정: 제타 전위는 나노입자의 정전기적 안정성을 평가하는 핵심 지표입니다. 전기장에서 입자의 전기영동 이동도를 측정하여 계산합니다. 일반적으로 제타 전위의 절대값과 시스템의 안정성 사이에는 다음과 같은 경험적 관계가 있습니다.
제타>60mV: 안정성이 우수함.
제타>30mV: 안정성이 좋음.
제타 > 25mV: 시스템이 불안정해지고 응집되기 쉽습니다.

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